破坏性物理分析(DPA)(C类复验)

发布时间: 2025年12月24日
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破坏性物理分析(DPA)(C类复验) 邀请询价
需求量:1.0只 规格描述:规格型号:半导体器件、液体钽电容器、密封继电器、金属壳封装的石英谐振和振荡器进行C类复验时,必须抽样作破坏性物理分析(DPA)。若无其它规定,对其它元器件一般不要求作DPA。 有关元器件DPA的方法及批不合格判据规定如下: a)分立器件按GJB548A拆卸半导体器件的外壳,按GJB-128A进行内部目检、键合强度和芯片检切检验;集成电路按GJB548A进行内部目检、键合强度和芯片剪切检验。检验结果如果发 现腐蚀等批次性失效模式,则整批不得用于产品上; b)剖开液体钽电容的外壳,用适当放大倍数的放大镜或显微镜观察其内部质量,当发现内壁有腐蚀孔或普遍腐蚀的现象,则整批不得使用于产品上; c)剖开密封继电器的外壳,用适当放大倍数的放大镜或显微镜观察观察其内部质量,当发现有腐蚀现象,则整批不得用于产品上; d)剖开石英谐振器、振荡器的外壳,用适当放大倍数的放大镜或显微镜观察观察其内部质量,当发现有腐蚀现象,则整批不得用于产品上;
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询价中 需求发布时间2025-12-24 10:53
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