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X射线高分辨率测试卡（JJ20260026）延期公告

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重庆 -重庆

发布时间： 2026年01月13日

摘要信息

招标单位

招标编号

招标估价

招标联系人

招标代理机构

代理联系人

报名截止时间

投标截止时间

关键信息

射线测试卡公告

招标详情

下文中****为隐藏内容，仅对千里马会员开放，如需查看完整内容请或拨打咨询热线： 400-688-2000

相关单位：

***********公司企业信息

延期信息

延期理由：

项目名称项目编号公告开始日期公告截止日期采购单位付款方式联系人联系电话签约时间要求到货时间要求预算总价发票要求含税要求送货要求安装要求收货地址供应商资质要求公告说明

X射线高分辨率测试卡	****
2026-01-08 09:18:00	2026-01-16 12:00:00
****	货到验收合格付款

	合同签订20个工作日内
￥




****A区ICT研究中心
符合《政府采购法》第二十二条规定的供应商基本条件

采购清单1

采购商品采购数量计量单位所属分类

微焦X射线源分辨率测试卡

件

其他仪器仪表

品牌型号预算单价技术参数及配置要求参考链接售后服务

￥

基底尺寸（Substrate）: 9 mm x 9 mm x 0.25 mm 硅芯片窗（silicon chip with）：3 mm x 3 mm x 250 nm Si3N4 几何形状（Geometry）: nested L-形参数（ parameters）: 金箔厚度（Gold height） ~1500 nm 线宽（Pattern Line Widths）[μm]：550 - 40 - 30 - 20 - 15 - 10 - 8 - 6 - 5 - 4 - 3 - 2 - 1.5 - 1 - 0.8 - 0.6 - 0.5 - 0.4 - 0.35 - 0.3 - 0.25 - 0.2

电话支持:7x8小时;质保期限:1年;