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X射线高分辨率测试卡（JJ20260026）延期公告

重庆 -重庆

发布时间： 2026年01月13日

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射线测试卡公告

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***********公司企业信息

采购清单 1

采购物品	采购数量	计量单位	所属分类
微焦X射线源分辨率测试卡	2	件	其他仪器仪表

品牌	-
规格型号	-
技术参数	基底尺寸（Substrate）: 9 mm x 9 mm x 0.25 mm 硅芯片窗（silicon chip with）：3 mm x 3 mm x 250 nm Si3N4 几何形状（Geometry）: nested L-形参数（ parameters）: 金箔厚度（Gold height） ~1500 nm 线宽（Pattern Line Widths）[μm]：550 - 40 - 30 - 20 - 15 - 10 - 8 - 6 - 5 - 4 - 3 - 2 - 1.5 - 1 - 0.8 - 0.6 - 0.5 - 0.4 - 0.35 - 0.3 - 0.25 - 0.2
售后服务	电话支持:7x8小时;质保期限:1年;