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半导体分析仪（XJ-WSBX-2600178）采购公告

公告-招标公告

浙江 -杭州

发布时间： 2026年06月02日

标书代写官方

摘要信息

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半导体分析仪采购公告

招标详情

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相关单位：

***********公司企业信息

项目名称项目编号公告开始日期公告截止日期采购单位付款方式联系人联系电话签约时间要求到货时间要求预算总价发票要求含税要求送货要求安装要求收货地址供应商资质要求公告说明

半导体分析仪	****
2026-06-02 15:43:21	2026-06-09 17:00:00
****	货到付款，甲方在到货验收后15日内向乙方一次性支付本项目的总额

	成交后120个工作日内
￥485000.00




****港校区开物苑3**实验室
符合《政府采购法》第二十二条规定的供应商基本条件

采购清单1

采购商品采购数量计量单位所属分类

半导体分析仪

台

半导体器件参数测量仪

品牌型号预算单价技术参数及配置要求参考链接售后服务

￥ 485000.00

主机应为一体式半导体器件参数分析仪，主机含有≥2 个 SMU 测试模块；主机支持后续扩展 SMU、CV、脉冲/快速 I-V 等测试模块。主机采用可插拔模块化架构，主机插槽数不少于 10 个主机应配置不小于 15 英寸触摸屏，支持本机图形化操作、键盘/鼠标操作、测试设置、曲线显示、数据保存和结果分析。系统软件应支持 Spot、Sweep、Sampling 等 I-V 测试模式，并支持常用器件测试模板、参数抽取、曲线显示和数据导出。主机应支持 GPIB、USB、LAN 等通信接口，便于接入探针台、上位机或自动化测试系统。配置 SMU 通道应支持高分辨率 ADC 与高速 ADC 两种测量路径，可根据低噪声精密测试或较快采样测试进行选择。具有高功率的SMU 应支持四象限源/测量；输出能力不低于 ±200 V / ±1 A，最大输出功率不低于 20 W；电压测量分辨率不劣于 2 μV，电流测量有效分辨率不劣于 10 fA。具有高分辨率的SMU 应支持四象限源/测量；输出能力不低于 ±100 V / ±100 mA；电压测量分辨率不劣于 0.5 μV，原生电流测量分辨率不劣于 1 fA。 SMU 量程切换速率应可调整，可根据曲线扫描需要优化量程切换过程，最小化因量程切换造成的曲线不连续。系统应具有曲线追踪模式，可通过手动动态调整旋钮对未知器件进行交互式动态扫描，并可将测试设置用于后续标准化测试。系统应具备电压/电流 Compliance 保护、三轴连接、Kelvin/远端感测、Guard 低漏电测量、时间域采样和脉冲 I-V 测试能力；最小采样间隔应达到 100 μs，最小脉冲宽度应达到 500 μs。提供原厂授权函

服务网点:当地;电话支持:7x24小时;质保期:3年;服务时限:报修后8小时;商品承诺:原厂全新未拆封正品;