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| 426,000 |
| 符合要求,价格最低 |
| 半导体分析仪 | 项目编号**** | |
| 2026-06-09 18:01:57 | 公示截止日期||
| **** | 付款方式货到付款,甲方在到货验收后15日内向乙方一次性支付本项目的总额 | |
| 成交后在我参与的项目中查看 | 联系电话成交后在我参与的项目中查看 | |
| 成交后30个工作日内 | 到货时间要求成交后120个工作日内 | |
| ¥ 485,000 | ||
| ******港校区开物苑3****实验室 | ||
| 符合《政府采购法》第二十二条规定的供应商基本条件 | ||
| 半导体分析仪 | 是 | 1 | 台 | 半导体器件参数测量仪 |
| Keysight是德科技 | ||
| B1500A | ||
| ¥426,000 | ||
| 主机应为一体式半导体器件参数分析仪,主机含有≥2 个 SMU 测试模块; 主机支持后续扩展 SMU、CV、脉冲/快速 I-V 等测试模块。 主机采用可插拔模块化架构,主机插槽数不少于 10 个 主机应配置不小于 15 英寸触摸屏,支持本机图形化操作、键盘/鼠标操作、测试设置、曲线显示、数据保存和结果分析。 系统软件应支持 Spot、Sweep、Sampling 等 I-V 测试模式,并支持常用器件测试模板、参数抽取、曲线显示和数据导出。 主机应支持 GPIB、USB、LAN 等通信接口,便于接入探针台、上位机或自动化测试系统。 配置 SMU 通道应支持高分辨率 ADC 与高速 ADC 两种测量路径,可根据低噪声精密测试或较快采样测试进行选择。 具有高功率的SMU 应支持四象限源/测量;输出能力不低于 ±200 V / ±1 A,最大输出功率不低于 20 W;电压测量分辨率不劣于 2 μV,电流测量有效分辨率不劣于 10 fA。 具有高分辨率的SMU 应支持四象限源/测量;输出能力不低于 ±100 V / ±100 mA;电压测量分辨率不劣于 0.5 μV,原生电流测量分辨率不劣于 1 fA。 SMU 量程切换速率应可调整,可根据曲线扫描需要优化量程切换过程,最小化因量程切换造成的曲线不连续。 系统应具有曲线追踪模式,可通过手动动态调整旋钮对未知器件进行交互式动态扫描,并可将测试设置用于后续标准化测试。 系统应具备电压/电流 Compliance 保护、三轴连接、Kelvin/远端感测、Guard 低漏电测量、时间域采样和脉冲 I-V 测试能力;最小采样间隔应达到 100 μs,最小脉冲宽度应达到 500 μs。 提供原厂授权函 | ||
| 服务网点:当地;电话支持:7x24小时;质保期:3年;服务时限:报修后8小时;商品承诺:原厂全新未拆封正品; | ||
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2026-06-09 18:01:57